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半导体检测设备
激光点共焦扫描无图形晶圆检测设备
产品描述:
Saturn系列设备运用激光共聚焦螺旋扫描成像技术,集成了明场、暗场、形貌、相位和多个PL等检测通道,能够全面、精准地检测抛光衬底片、外延片的颗粒与缺陷。此外,Saturn系列设备还具备自动实时对焦功能,能够有效克服晶圆翘曲带来的成像离焦问题,确保检测结果的准确性和可靠性。这款产品的推出,将为半导体材料的品质控制和工艺优化提供有力支持。
产品参数:
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