产品及解决方案

我们为您提供关于中电科风华的最新产品及解决方案

Mars 4400
产品描述：
SiC晶圆腐蚀后的位错检测设备。设备采用微分干涉相差的光学显微成像技术，可进行全片扫描并采集完整数据，计算并自动统计位错数量与密度，生成位错密度图。
产品参数：
应用范围：SiC衬底切割片、研磨片、抛光片的位错检测分析(经KOH腐蚀)
可测晶片尺寸：标准4,6,8英寸及其它非标尺寸
联系方式：
邮箱地址：service@zdkfh-ie.com
联系电话：0351-6525757

解决方案

相关产品